产品: 电学测试
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详细介绍
直流电阻
直流电阻就是元件通上直流电,所呈现出的电阻,即元件固有的,静态的电阻。
PPMS-9 物理性能测量系统,进行不同的配置后,可以进行不同目的的物理性能测量,包括物质的电学性质、磁学性质、热学性质等。
可测量:1、直流电阻,2、交流电阻,3、HALL效应, 4、I-V特性,5、临界电流,6、DC磁化强度,7、AC磁化率,8、扭矩磁化测量,9、比热,10、热导率 ,11、热电势,12、FIGURE OF MERIT ,13、超低场较正。以上测量可以变温度、变磁场进行、连续低温操作。
主要规格及技术指标
1.提供1.9k~400k测量温度和0~±9Tesla的磁场。
2. VSM灵敏度:2×10-7emu至3emu。
3.ACMS灵敏度:2×10-5emu至5emu;DC磁化强度:2.5×10-5emu至5emu。
4.比热测量:分辨率:10nJ/k@2k。
5.电子输运性质测量:电流10μA至2A,电压范围±5V,噪声范围:5nV/HZ@1kHz
6.热导率:0.5~ 1000 W/m*K变温范围 1.9~400k
不同的测量对样品的要求差别很大,大体上的要求如下:
样品必须为干燥固体或粉末,应有一定的化学、物理稳定性,在真空中不会挥发,无放射性和腐蚀性。样品体积不宜太大,请注明样品包含什么元素。
磁性测量:样品形状无要求固态粉末均可;电导率热导率:3×3×20mm或Φ6mm×2mm
交流电阻
交流电阻就是元件通上交流电,所呈现出的电阻。
热电势
两种不同成份的材质导体组成闭合回路,当两端存在温度梯度时,回路中就会有电流通过,此时两端之间就存在电动势—热电动势,这就是所谓的塞贝克效应(Seebeck effect)。热电偶就是利用这种原理进行温度测量的。
电滞回线
在较强的交变电场作用下,铁电体的极化强度P随外电场呈非线性变化,而且在一定的温度范围内,P表现为电场E的双值函数,呈现出滞后现象,这个P—E(或D—E)回线就称为电滞回线。
电阻测量
绝缘电阻测试仪 AT682
性能参数:
1.输出电压: 数控1V~1000VDC
2.基本准确度:<10G: 3% ≥10G: 5% ≥100G: 10%
3.测试范围:10k-1TΩ(104~1012 Ω)
4.读数: 9999
5.量程:自动和手动
6.测试速度:55次/秒,15次/秒,3次/秒
7.校正:全量程开路清零
8.比较器:30组记录,GD/NG 讯响:GD、NG、关设置设置
9.接口:RS-232C接, Handler接口
功能用途:
1.可测量半导体、绝缘材料电阻率。用于现场测试或定时测试和破坏性试验。
2.测试开关设备、继电器、马达、发电机和线缆的绝缘电阻和泄露电流。
3.电容器等电子元件、设备的绝缘电阻测量。
4.介质材料和电线电缆的绝缘电阻测量等。
5.电容分选机的最佳解决方案。
纳伏表 KEITHLEY 2182A
性能参数:
1.快速且极低噪声,15nVP-P 噪声@1s 响应时间,40-50nV p-p噪声@60s 响应时间
2.Delta模式测量,配合程控电流源反转极性进行低阻测试,可达24Hz和30nV P-P噪声
3.与电源同步技术可提供110dB的串模抑制 (NMRR) ,将AC共模电流的影响减至最小
4.双通道输入,可测量电压、温度或未知电阻与参考电阻的比例
5.内置热电偶线性化和冷端补偿功能
功能用途:
1.材料低电阻测量,电容器电感器阻抗器等电子元件、设备的LRC测量。
2.介质材料介电参数测量等。
测试样品送样要求:
样品2×2×30mm或Φ3mm×30mm
非晶材料磁阻抗测试
非晶材料磁阻抗测试仪 BKT-4A
性能参数:
1. 系统控制主机:1路恒流源0.3mA~50mA;2路4 1/2数字电压表;1块USB接口24bit数据采集卡;功耗:<50W。
2. 自动扫描电源:0~±5A,磁场扫描速率:0.01A/s~1.0A/S。
3. 亥姆霍兹线圈:0~±150Gs;直径:Φ260mm;均匀区:30x30mm。
4. 探头电路技术参数:输入信号动态范围:±30 dB;输出电平灵敏度:30mV / dB;,输出电流:8mA;,转换速率:25 V /μs;相位测量范围:0~180°;相位输出时转换速率:30MHz;响应时间:40 ns~500 ns;测量夹头间隔10mm。
5. 计算机:PC兼容机,Windows XP、Windows 7操作系统。
6. 数据采集软件:运行环境Windows XP、Windows 7操作系统。
功能用途:
可测量非晶材料磁阻抗特性:Z/Θ,R/X随意磁场的变化,频率范围1mHz~40MHz。
测试样品送样要求:
细丝状样品长度大于10mm
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